Jens Warmuth: Mit modernster Mikroelektronik sicher in die Zukunft fahren

Im allgegenwärtigen Diskurs über autonomes Fahren, künstliche Intelligenz und Industrie 4.0 wird der Sicherheit viel Aufmerksamkeit geschenkt - von Fußgängererkennung bis hin zu ethischen Fragestellungen. Ein grundlegender Aspekt wird dabei jedoch stets vorausgesetzt: Die leistungsfähige, hoch integrierte Mikroelektronik muss robust und zuverlässig über Jahre hinweg funktionieren. Die neusten Technologien wurden allerdings nicht für die rauen Umwelteinflüsse im Automobil bzw. der Industrie entwickelt, sondern für die kurzlebige Konsumelektronik. Im Vortrag wird dargestellt, wie mit modernster Technologie trotzdem sicher in die Zukunft gefahren werden kann. 

Jens Warmuth studierte Physikalische Technik (B.Sc.) sowie Mikro- und Nanotechnik (M.Sc.) in München. Von 2012 bis 2016 arbeitete er am Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration im Bereich mechanischer Mikrosensoren und Stress im AVT-Prozess. Seit 2016 ist Jens Warmuth wissenschaftlicher Mitarbeiter in der Gruppe Multiphysikalische Verifikation am Institutsteil Entwicklung Adaptiver Systeme des Fraunhofer-Instituts für Integrierte Schaltungen. Schwerpunkt seiner Forschungen ist der Einfluss von Umweltbedingungen, vor allem von mechanischem Stress, auf die Funktionalität und Zuverlässigkeit mikroelektronischer Komponenten und Systeme.